热循环 TC

PQP中的热循环(TC)测试是在IEC/UL认证测试的200循环基础上延伸至600循环，这可以更好地评估组件在大多数环境下及预期的光伏电站运行寿命期间对温度波动的耐久性。TC的极端温度波动对组件材料会造成一定应力，因为这些材料的热膨胀率是各不相同的，例如晶硅电池和互联条之间。这些应力也会降低组件和接线盒内的焊接质量，从而大大降低组件性能。这个测试对于昼夜温差很大的环境是至关重要的。

关键要点

更少的最佳表现者

TC600测试后约71%的BOMs功率衰减小于2%。

在2023年和2024年的记分卡中，功率衰减小于2%的比例为83%，与之前相比有所降低。虽然TC后的中位数衰减率与去年没有统计学差异，但小于2% 的BOMs数量下降很可能是由于一些制造商试图减少电池金属化过程中银的使用以节省成本有关。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。

电池技术影响

TOPCon的结果优于PERC，HJT的结果好坏参半。

在过去一年的TC测试中，TOPCon和PERC的中位衰减率分别为1.1%和3.6%，表明TOPCon技术优于PERC技术。同时，HJT的样本量虽然较少，但结果的跨度很大，这表明一些HJT制造商还有改进的空间。

双玻优势

双玻组件在TC测试中优于单玻背板组件。

针对2025记分卡数据集，90%的双玻BOMs在TC600之后的衰减率小于2%，而单玻背板BOMs的衰减率为0%。这延续了2024记分卡中报告的趋势，并显示了双玻组件在保护电池免受单玻背板组件中存在的不均匀热膨胀应力方面的强大优势。

失效增加

15%的BOMs在TC测试期间经历了一次或多次失效。

32%的制造商在TC测试期间至少经历了一次失效，而2024年的记分卡这一比例为20%。这些问题包括脱层、玻璃破碎、旁路二极管失效和电线外露。此外，8%的制造商经历了功率衰减失效，主要是由于金属化和互连条设计成本的降低。请参阅失效页面了解更多信息。

TC测试结果聚焦

这里展示了一个最近的脱层案例，气泡从双玻层压件边缘（在边框下面）渐渐渗入。虽然很少在最终产品的外观检查步骤中看到，但这些气泡可以在TC和/或DH测试后出现。它们通过形成从组件载流部件到接地边框的潜在电气路径而产生安全风险。根据IEC 61730标准这是一个主要缺陷，因为它存在电弧风险。潜在的根本原因可能是各种降低成本的措施，包括使用更薄的胶膜，层压后更大的层压边缘夹紧，和/或层压时间的减少。