安全失效
失效类型
在项目现场安全失效的组件其操作可能是危险的。在整个PQP测试中，通过使用IEC 61215标准的湿漏电测试来确定安全操作，该标准评估光伏组件的电气绝缘性。不符合IEC 61215绝缘电阻最低要求的BOMs会被包括在记分卡的失效统计中。
该组件未通过TC200后的湿漏电测试，这意味着它在IEC 61215认证测试中失效。Kiwa PVEL的调查显示接线盒内的灌封胶没有正确固化，导致接线盒内的电路元器件暴露在外。在过去一年中，至少来自7套不同制造商生产的不同BOMs中出现了源自接线盒的湿漏电失效。
外观检验
外观检验可以识别导致现场过早失效的问题。通过使用IEC 61215和IEC 61730标准检查组件是否脱层，腐蚀，破碎或表面裂纹以及其他“主要”缺陷。在外观检验中带有“主要”缺陷的BOMs会被包括在记分卡的失效统计中。
在MSS测试期间，该组件的边框安装孔经历了永久变形。这被认为是一个“主要缺陷”，是在风力事件发生后的一种常见的现场失效模式。Kiwa PVEL在过去一年中已经观察到多块组件的边框耐久性存在问题，这可能是由于组件制造商试图减少边框中铝含量导致成本削减的结果。
功率衰减
功率衰减失效的组件会导致在现场性能不佳。虽然PQP没有指定特定的合格/不合格阈值，但如果功率衰减超过他们或客户的预期，制造商可能会触发重测。在PQP报告中清楚地注明复测。由于功率损失而进行的重测BOMs包含在记分卡的失效统计中。
该HJT组件在DH2000测试后衰减约5.5%，制造商触发了重测请求。功率损失主要是由于沿周边和接线盒孔进入玻璃//玻璃层压件的水汽造成的潜在腐蚀-从这些变暗的区域可以看到。在过去的一年里，有15家制造商遭遇了与功率损失相关的失效。
二极管
Kiwa PVEL在TC和MSS测试后评估组件旁路二极管的功能。失效的旁路二极管不能再保护组件免受热斑的影响，这可能会导致火灾风险。二极管反向和/或正向偏压失效的BOMs会包含在记分卡的失效统计中。
继TC600之后，该组件有一个短路的旁路二极管，导致33%的功率衰减。该BOM通过了IEC的热循环测试(TC200)，但在PQP热循环测试(TC600)后经历了灾难性的功率衰减。在去年的PQP测试中，有两家制造商的旁路二极管失效。
关键 要点
组件破裂
外观检验再次成为主要的失效类别。
60%的失效是在外观检验中发现的。最大的原因是在MSS测试期间，由于相比前几年跟踪安装测试的增加，加上玻璃和/或边框性能较弱，组件出现损坏。在HSS测试过程中，组件破损也导致了许多失效，当测试2个冰雹尺寸的组件破裂或制造商要求HSS重测时，这些失效都会被计算在内。
功率损失失效的增加
在PID、UVID、TC、DH和MSS测试中会出现功率损失失效。
经历功率损失相关失效的BOMs百分比从2024年记分卡中报告的14%增加到19%。这在很大程度上是由于UVID功率损失被包括在今年的失效统计数据中，当组件制造商发起UVID重测时，也会对其进行统计。在过去的三版记分卡中经历功率损失失效的PID BOMs百分比保持在大约6%。
安全失效持续存在
遭遇安全失效的BOMs百分比保持一致。
7%的BOMs出现湿漏电绝缘(或“安全”)失效。这与2024年记分卡报告的数字相同，低于2023年记分卡报告的18%。大多数这些失效都是由于线缆周围密封不良和灌封胶应用不良而导致的。
接线盒失效
三分之一的制造商有一个或多个接线盒相关失效。
Kiwa PVEL在过去六个版本的记分卡中强调了接线盒失效的问题，但这些失效仍在继续。它们包括11%的制造商有接线盒盖脱落，8%的制造商有松动的线缆/暴露的电线，8%的制造商有旁路二极管失效，4%的制造商有熔化/损坏的连接器。
PQP失效 统计
柱状图按失效类型显示了在PQP的每个适用测试序列中至少经历一次失效的BOMs百分比。初始失效是在应力测试之前的表征测试期间检测到的失效。“目击”失效是2025年记分卡的一个新类别，11%的制造商经历过此失效。由于质量问题当制造商决定不按照PQP样品生产工厂目击发货时，就会发生这种情况。
最常见的失效类型是外观检验中的主要缺陷，占所有失效的60%。其次是功率衰减失效占21%。
按测试顺序列出每套BOM中PQP失效的百分比。
2025年记分卡的新功能是过去五版记分卡中报告的失效历史已汇总在下面的线形图中。这清楚地表明遭遇至少一次失效的制造商和BOMs的百分比一直在稳步上升，而经历一个或多个接线盒相关失效的制造商的百分比仍然很高。
以往记分卡中报告的PQP失效率。
苏公网安备32050502012267号
