电势诱导衰减 PID

PQP中的电位诱导衰减(PID)测试是将IEC/UL认证测试周期延长一倍至192小时。PID主要发生在高压不接地的光伏系统中，尤其是那些使用无变压的逆变器。PID的形成有多种形式，包括PID分流，PID腐蚀和PID极性。当来自玻璃的钠离子进入到电池抗反射涂层的针孔时，就会发生PID分流，从而永久性地降低性能。PID极性源于内部电路电压引起的静电荷积聚，并且可能是可逆的。

关键要点

更多的最佳表现者

2024年生产的BOMs中，72%的BOMs在PID(-)测试后衰减率小于2%。

这比2023年生产的57%的BOMs在测试后衰减率小于2%上有所上升。虽然不是统计学上的显著变化，但PID(-)后的衰减中值从2023年生产的BOMs的1.9%下降到2024年生产的BOMs的1.5%。两个PID(-)异常值分别为11.9%和17.6%，降低了2024年BOMs的平均值。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。

较小的组件型号影响

测试结果在电池技术和层压类型之间保持一致。

虽然与PERC和HJT相比TOPCon的结果范围更大，但对于TOPCon、PERC和HJT电池技术其PID(-)敏感性没有统计学上的显著差异，双玻组件与单玻背板组件也没有统计学上的显著差异。电池技术和组件类型不是PID性能的可靠的参考指标。

PID(+) vs PID(-)

相比于PID(-)的结果PID(+)通常衰减率更低。

2025记分卡的新规定是，PID最佳表现者在PID(-)和PID(+)上的衰减必须同时小于2%。对于PID(+)其衰减相对较小，但也有9%的BOMs其PID(-)的衰减小于2%以及PID(+)的衰减大于等于2%，所以就从最佳表现者名单中移除。相反，32%的BOMs其PID(+)的衰减小于2%以及PID(-)的衰减大于等于2%。

仍有失效

与2024年记分卡类似，有9%的BOMs在PID测试期间经历了一次失效。

这些失效大多是由于PID-p现象引起的功率衰减，通常可以借助紫外线照射来逆转(参阅如下的测试结果聚焦)。有报道称PID-p现象在电站现场也时有发生，因此被认为是一个测试失效。PID测试后的其他失效包括脱层和湿漏电失效。请参阅失效页面了解更多信息。

PID测试结果聚焦

PQP测试继续揭示那些易受PID极化（PID-p）影响的BOMs，包括下面的TOPCon组件。Kiwa PVEL的测试已经证实许多BOMs没有表现出PID-p现象，但其他一些BOMs仍然可能会遭受大的功率损失。虽然随后2 kWh/m²的紫外线照射（相当于几周的户外照射）通常可以逆转这种现象，但NREL和FSEC¹最近的工作已经表明在电站现场也会发生PID-p的现象。考虑到PID-p在光伏电站发生的可能性，PID(-)和PID(+)的最佳表现者标准是在任何紫外线恢复之前两者功率衰减都要小于2%。

初始

测试前EL图片未显示PID敏感性。

PID192(-)

在经过192小时PID(-)测试后，大多数电池由于极化电荷的聚集（PID-p现象）显示变暗。

UV恢复

在经过2 kWh/m²的紫外线照射后，大部分极化效应已经被逆转。

PID BOMs的功率衰减图

查阅电位诱导衰减测试最佳表现者名单

点击这里查阅被列为PID最佳表现者的150套BOMs。

所有2013/2014和2015年的结果都来自600小时的PID测试。在2016年及以后的结果中，这一时间减少到192小时且仅显示PID(-)的结果。

一些大于10%衰减的异常值没有展示出来。在某些情况下，这会导致平均值的显著降低。

查看方格图解读指南

PID测试流程，哪些光伏组件材料需要被评估，以及一个案例分析为什么PID很重要都可以在kiwa.com/pvel 这里找到。

¹ Peter Hacke, Cecile Molto, Dylan Colvin, Ryan Smith, Farrukh Ibne Mahmood, Fang Li, Jaewon Oh, Govindasamy Tamizhmani and Hubert Seigneur. EPJ Photovolt., 16 (2025) 16. 现场双面PERC组件的极化型电位诱导衰减现象。https://doi.org/10.1051/epjpv/2025004