由双玻组件中的汇流条引起的玻璃开裂可以通过更厚的胶膜和/或改变层压配方来预防。
关键 要点
衰减较小
结合LID + LETID的数据来看其93%测试的BOMs功率衰减小于1%。
这比2024年记分卡中报告的96%测试的BOMs衰减小于1%上略有下降，但2023年和2024年生产的BOMs的中位衰减值和平均衰减值结果几乎相同。LID和LETID仍处于历史低点。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。
不同电池技术下的LID性能
不同电池技术下其LID衰减值都较低且在统计上没有差异。
在2025记分卡里符合条件的BOMs中，TOPCon的LID功率衰减中位值为0.4%，PERC为0.4%及HJT为0.3%。TOPCon的LID功率衰减平均值为0.4%，PERC为0.3%及HJT为0.4%。尽管PERC和HJT的样本量较低，但无论电池技术如何LID结果在统计上都是相同的。
不同电池技术下的LETID性能
与LID类似，不同电池技术下的LETID结果其差异很小。
在2025记分卡里符合条件的BOMs中，TOPCon的LETID功率衰减中位值为0.0%，PERC为0.0%及HJT为0.2%。TOPCon的LETID功率衰减平均值为0.1%，PERC为0.2%及HJT为0.1%。在所有三种电池技术的测试结果范围内也观察到强烈的重叠。
初始失效的减少
测试前失效比例从2024年记分卡的高位有所下降。
5%的BOMs经历了一次或多次测试前失效，低于2024年记分卡的11%。在测试前失效的最坏案例中，一套BOM在LID测试期间有多块组件出现玻璃破碎(参阅下面的测试结果聚焦)。对于初始的安全失效，缺失的接线盒盖和脱层也时有发生。请参阅失效页面了解更多信息。
测试结果聚焦
双玻组件经历自发性的玻璃破碎是影响当今光伏组件可靠性的最重要原因。Kiwa PVEL了解到这种情况发生在多个国家，多种组件型号，且安装在多种跟踪支架/固定支架上。虽然这种失效模式通常与LID和LETID测试无关，但Kiwa PVEL最近惊讶地发现一套BOM里的20块组件中有6块显示出户外LID后独特的玻璃破损模式。即汇流条上的裂缝表明沿着层压件边缘缺乏足够的胶膜，导致在金属栅线和玻璃表面之间出现边缘夹紧诱导应力集中点。
苏公网安备32050502012267号
