初始的EL图片看起来是完美无暇，看不出DH测试之后会发生什么。
关键 要点
更少的最佳表现者
DH2000测试后约62%的BOMs功率衰减小于2%。
这延续了2024年和2023年记分卡的下降趋势，分别有69%和72%的BOMs衰减率小于2%。2024年和2023年生产的BOMs衰减中值没有显著差异，但这两年的BOMs都低于2022年生产的BOMs。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。
电池技术影响
TOPCon的结果优于PERC，且两者都优于HJT的结果。
在过去一年所测试的TOPCon BOMs 中，67%的BOMs在DH后衰减率小于2%，PERC BOMs降至33%，HJT BOMs则为0%，但需要澄清PERC和HJT的样本量明显低于TOPCon。还有一些TOPCon的异常值，包括在所有技术中记录了最大衰减值：来自一套TOPCon BOM其衰减率为8.8%。
双玻优势
针对TOPCon BOMs双玻组件较单玻背板组件有明显的优势。
在过去一年中，TOPCon双玻BOMs的中位功率衰减为1.6%，而TOPCon单玻背板BOMs中位功率衰减为4.0%。虽然这对TOPCon BOMs来说是令人鼓舞的，但9%的制造商在DH测试后双玻组件的边缘出现了脱层失效，强调了恰当层压的重要性。
失效持续存在
10%的BOMs及19%的制造商在DH测试期间经历了一次或多次失效。
这些DH失效是由于脱层（如2024记分卡中重点强调），接线盒盖脱落和功率衰减造成的（参阅如下的测试结果聚焦）。随着电池设计和封装方案的多样化，失效模式的数量也在增加，包括一些双玻组件的主栅线受助焊剂驱使的腐蚀。请参阅失效页面了解更多信息。
DH测试 结果聚焦
TOPCon和HJT电池都比PERC更容易受水汽相关腐蚀的影响，正如在过去几年里一些DH测试结果被观察到的那样。在这种情况下，当水汽通过背板进入层压件时，单玻背板TOPCon BOMs会遭受与腐蚀相关的功率衰减。这也可能发生在双玻组件上，其水汽通过双玻层压件边缘和接线盒孔进入。虽然并非所有的TOPCon BOMs都遭受这种衰减模式，但胶膜、电池金属化、助焊剂和背板（如果适用）的选择对于确保组件的可靠性至关重要。
初始
DH1000
DH1000后，电池边缘和栅线部分逐渐变暗，功率衰减为2.7%。
DH2000
DH2000后，电池边缘和栅线部分暗的更加明显，其相关功率衰减达到9.3%。
苏公网安备32050502012267号
