紫外诱导衰减 UVID

Kiwa PVEL的紫外诱导衰减(UVID)测试超越了标准的IEC/UL认证测试，以此识别易受这种衰减机制影响的组件。HJT和TOPCon组件被宣传在第一年质保和之后的每年质保衰减率都有所提高，但两种技术的案列(除了PERC)都显示出明显的紫外引起的功率衰减。虽然测试持续时间不一定足以达到UVID导致的最大衰减值，但该测试能够区分UVID敏感组件和UV稳态组件。

关键要点

N型更易受影响

N型组件的UVID功率衰减高于P型组件。

在测试了80多套BOMs后，TOPCon和HJT BOMs的中位功率衰减分别为3.1%和4.2%。PERC BOMs表现出相对较低的衰减，功率衰减中值为2.2%。在不同的电池技术类型中同时观察到不同的UVID失效机制。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。

暗箱储存亚稳态

在UVID和户外曝晒测试后一些TOPCon和HJT组件被观察到暗箱储存衰减。

这种影响在UVID敏感的TOPCon组件中最为严重，每天的功率损失高达1%。表征测试发生在紫外线照射后48小时内，以尽量缓解此影响程度。由于这个问题UVID今年不是最佳表现者类别，但很可能被列入2026记分卡中。请参阅下面的测试结果聚焦了解更多信息。

胶膜选择的重要性

胶膜添加剂和紫外截止波长是关键参数。

在使用了截止波长低于340nm的紫外透明正面胶膜的组件中，紫外诱导的衰减更为明显。抗紫外正面胶膜或光转胶膜添加剂在紫外线测试后产生较低的功率衰减。

现场可靠性挑战

户外暴晒测试会揭露一些TOPCon和HJT的BOMs对UVID较为敏感。

PQP中的可选户外暴晒测试发现组件在加利福尼亚州的戴维斯安装后一年，一些BOMs出现了重大衰减(中位衰减值：2%，最大衰减值：8%)。这主要归结于UVID，因为这些BOMs在LID和LETID后的综合功率衰减小于1%，并且EL图像显示出明显的格子图案。

UVID测试结果聚焦

Kiwa PVEL最近在一些UVID和户外暴晒测试的组件中观察到亚稳态的迹象，当组件在测试结束后被存储在暗箱中时会发生显著的功率衰减。下面是一个案例，在120 kWh/m²的紫外线照射下，组件衰减了4.5%，但在此之后，当组件在暗箱储存31天，这种衰减几乎翻了一番。通过在开路条件下对该组件进行0.1 kWh/m²的短时间全光谱光浸泡，衰减得到了部分恢复，但仍然保持在4 %以上，这表明组件对UVID的显著敏感性。

初始

UVID120

暗箱储存

光浸泡

该组件先是在紫外测试期间功率有衰减，然后在暗箱储存期间继续衰减。在全光谱光浸泡期间一些功率损失得以恢复。紫外敏感组件的EL图像通常呈现“棋盘”模式，在LETID敏感组件中也可以看到，表明电池不均匀地受到UVID应力的影响。

UVID功率衰减图

与PERC相比UVID在TOPCon和HJT组件中更为明显，如下图所示。TOPCon和HJT都表现出广泛的UVID敏感性，这表明在材料清单、电池工艺不均匀性和电池设计方面存在差异，同时存在高性能和低性能配置。值得注意的是，大多数TOPCon组件在120 kWh/m²的紫外照射后其功率衰减超过3%，这大约是一年的户外照射量。这种衰减可能是由紫外线透明胶膜和电池上更薄的抗反射涂层共同驱动的。但令人鼓舞的是最近的UVID测试结果开始显示出性能的提高，这表明制造商正在积极地朝着组件设计中更好的紫外稳定性的方向发展。