1 Kiwa PVEL在60°入射角(AOI)范围内的总扩展不确定度小于0.5%。在之前的工作中比较了其他实验室的IAM不确定性2，其在60°入射角(AOI)范围内报告的总扩展不确定度为1.2%至2.5%。
关键 要点
紧密分布
Kiwa PVEL在数十块组件中测量了IAM性能其变化非常小。
在过去的一年中，使用Kiwa PVEL最佳测试方法进行的测量继续表明商用组件的IAM值相对一致。这可能与制造商提供的IAM曲线相矛盾，包括来自其他第三方实验室的数据。请参阅批量IAM测试数据图了解更多信息。
具有参考价值的差异
结果范围可能比一些人预期的要小，但显著的差异同样存在。
Kiwa PVEL拥有世界上1精度最高的IAM测试仪器，可以准确测量BOMs之间IAM性能的差异。对在内华达州拉斯维加斯的单轴跟踪系统进行PVsyst模拟，性能最高的表现者其发电量比性能最低的表现者要高0.60%。请参阅下面的测试结果聚焦了解更多信息。
与默认值的比较
PVsyst默认IAM值略低于大多数测量的IAM结果。
在美国拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟中，与使用PVsyst的菲涅耳ARC默认值相比，Kiwa PVEL在过去一年中测量的代表性组件中其发电量高出0.12%。这种差异在固定倾角安装和多云条件下更为明显。请参阅下面的测试结果聚焦了解更多信息。
电池技术影响
就平均而言，HJT组件的IAM数据低于TOPCon和PERC。
虽然HJT的样本量较小，但Kiwa PVEL的IAM测量结果表明HJT组件的IAM平均值低于TOPCon和PERC组件。这可能是由于HJT非晶硅电池对蓝光的吸收。参阅下面的测试结果聚焦了解更多信息。
IAM测试 结果聚焦
尽管在IAM测量中其表现相对紧密的一致性，但BOMs之间的差异对于项目发电量和财务模型来说仍然是重要的。这些差异在与阳光充足以及采用单轴跟踪的低纬度地区(如美国拉斯维加斯)相比，采用固定倾斜安装的高纬度和/或多云的地区（如美国波士顿）变得更加明显。Kiwa PVEL还发现在IAM测试趋势中存在一些对电池技术的依赖。虽然存在重叠，特别是在PERC和TOPCon之间，但这两种电池技术的IAM平均值和IAM中位值表现优于HJT组件的平均值和中位值。同样，这些差异在固定倾斜安装的波士顿模拟中变得更加显著。
在两个模拟站点使用相同的IAM数据集，与PVsyst菲涅耳ARC默认值(表示为0.0)相比，电池技术对测量IAM的模型的年发电量影响。
批量IAM 测试数据图表
Kiwa PVEL在过去一年中对44套BOMs进行IAM测量(每个BOM测量三个样本)，此举继续显示其结果相对紧密的一致性。就平均而言，这些测量值在所有入射角上都优于PVsyst菲涅耳ARC默认值。
Kiwa PVEL从2024年到2025年第一季度对44套BOMs的IAM测试结果进行分析，结果显示出很强的一致性。PVsyst的菲涅耳ARC默认值包含在内供参考。
2 Riedel-Lyngskær N, Santamaría Lancia AA, Plag F, et al. 角度相关的光伏装置测量之实验室间比较：结果和对能量等级的影响。Prog Photovolt Res Appl. 2021; 29: 315–333. https://doi.org/10.1002/pip.3365
苏公网安备32050502012267号
